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exp:gm_counter:start [2018/11/28 14:16] 127.0.0.1 外部编辑 |
exp:gm_counter:start [2024/05/13 16:15] xiaole [实验内容] |
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| 行 8: | 行 8: | ||
| * 探究采样电阻、电源电压对G-M技术管输出脉冲幅度、宽度的影响； | * 探究采样电阻、电源电压对G-M技术管输出脉冲幅度、宽度的影响； | ||
| * 探究放大、微分、积分过程对脉冲特性的影响； | * 探究放大、微分、积分过程对脉冲特性的影响； | ||
| - | * 探究脉冲不经微分、经过微分两种情形下，计数电路的输出随X光管工作电流的变化，并由此得出两种情况下计数器的响应时间；（__**注意：若出现了计数电路的输出随X光管工作电流的增大反而减小了，则应停止继续测量，并立刻减小X光管工作电流！**__） | + | * 探究辐射计数的统计规律； |
| - | * 用示波器法测量G-M技术管的死时间。 | + | |
| + | ===== 实验内容 ===== | ||
| + | * 设置X光管的高压在15-16kV，电流不大于0.1mA，用示波器观察不同设置下的信号，可变的设置为：采样电阻、放大倍数、微分、积分、GM计数器上的高压；采样电阻对信号的影响可以放在最后来探究，特别关注采样电阻为1kΩ时的信号特征； | ||
| + | * 设置X光管合适的工作参数，在有、无微分条件下测量GM计数器的坪特性曲线； | ||
| + | * 固定X光管的高压，探究无微分、有微分两种情形下，X光强度随X光管工作电流的变化（X光管电压建议设为20kV左右），并由此得出两种情况下计数器的分辨时间（拟合公式请自己推导）；（__**注意：若出现了计数电路的输出随X光管工作电流的增大反而减小了，则应停止继续测量，并立刻减小X光管工作电流！**__） | ||
| + | * 固定X光管的电流，探究X光强度随高压的变化； | ||
| + | * 用示波器法测量G-M技术管的死时间； | ||
| + | * 探究辐射计数的统计规律：高计数、低计数下的统计规律和脉冲时间间隔的统计规律； | ||
| + | * 探究甄别阈值（在后面板调节）对分辨时间的影响。 | ||
| ===== 参考资料 ===== | ===== 参考资料 ===== | ||