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exp:common:hexy [2022/09/04 19:51]
xiaole [实验原理]
exp:common:hexy [2022/09/04 19:52]
xiaole [实验原理]
行 13: 行 13:
 ===== 实验原理 ===== ===== 实验原理 =====
  
-霍耳电压U<​sub>​H</​sub>​与半导体所处磁感应强度大小//​B//​、流过半导体的电流//​I//​满足下式:<​m>​ U_{H}=K_{H}*I*B </m>+霍耳电压U<​sub>​H</​sub>​与半导体所处磁感应强度大小 //B// 、流过半导体的电流 //I// 满足下式:<​m>​ U_{H}=K_{H}*I*B </m>
  
-式中,K<​sub>​H</​sub>​为元件的霍耳灵敏度。(K<​sub>​H</​sub>​是否随温度的变化而变化?)+式中,K<​sub>​H</​sub>​为元件的霍耳灵敏度。( K<​sub>​H</​sub>​ 是否随温度的变化而变化?)
  
  
  • exp/common/hexy.txt
  • 最后更改: 2022/09/05 09:28
  • 由 xiaole