α谱仪及薄膜厚度的测量

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  1. 了解alpha谱仪的工作原理及其特性。
  2. 掌握应用谱仪测量alpha粒子能谱的方法。
  3. 了解alpha粒子通过物质时的能量损失及其规律。
  4. 学习从能损测量求薄箔厚度的方法。

调整谱仪参量,测量不同偏压下的alpha粒子能谱,并确定探测器的工作偏压。

  1. 测量241Am的alpha粒子通过铝箔后的能谱。
  2. 从所测的能谱,确定峰位、半宽度及α粒子通过待测样品后的能损,计算阻止本领及薄箔的厚度。
  1. alpha粒子能量测量原理
  2. 半导体探测器工作原理
  3. 重带电粒子与物质相互作用
  4. 电荷灵敏前置放大器、主放大器和模数变换器工作原理
  1. 半导体探测器工作原理
  2. 电荷灵敏前置放大器、主放大器、模数变换器工作原理
  3. 重带电粒子与物质相互作用原理

核物理,应用物理,凝聚态物理

  1. 硅条探测器能谱测量
  2. 高纯锗伽玛谱仪实验
  3. Ge(Li)漂移探测器实验

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北京航空航天大学张高龙已完成整个实验平台的内容填报
感谢张老师。 — 乐永康 2020/01/31 14:27
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  • 由 xiaole