α谱仪及薄膜厚度的测量
历史版本
- *月*日版本:
1、科学素养
- 了解alpha谱仪的工作原理及其特性。
- 掌握应用谱仪测量alpha粒子能谱的方法。
- 了解alpha粒子通过物质时的能量损失及其规律。
- 学习从能损测量求薄箔厚度的方法。
2、分层次实验教学内容
a)基础内容
调整谱仪参量,测量不同偏压下的alpha粒子能谱,并确定探测器的工作偏压。
b)提升内容
- 测量241Am的alpha粒子通过铝箔后的能谱。
- 从所测的能谱,确定峰位、半宽度及α粒子通过待测样品后的能损,计算阻止本领及薄箔的厚度。
c)进阶内容
d)高阶内容
3、能力培养
- alpha粒子能量测量原理
- 半导体探测器工作原理
- 重带电粒子与物质相互作用
- 电荷灵敏前置放大器、主放大器和模数变换器工作原理
4、知识点
- 半导体探测器工作原理
- 电荷灵敏前置放大器、主放大器、模数变换器工作原理
- 重带电粒子与物质相互作用原理
5、学科关联
核物理,应用物理,凝聚态物理
6、延伸实验
- 硅条探测器能谱测量
- 高纯锗伽玛谱仪实验
- Ge(Li)漂移探测器实验
讨论区
北京航空航天大学张高龙已完成整个实验平台的内容填报感谢张老师。 — 乐永康 2020/01/31 14:27