G-M计数器特性研究

  • 实验室:物理楼145-147室。
  • 学习并掌握G-M计数器的工作原理;
  • 探究采样电阻、电源电压对G-M技术管输出脉冲幅度、宽度的影响;
  • 探究放大、微分、积分过程对脉冲特性的影响;
  • 探究辐射计数的统计规律;
  • 设置X光管的高压在15-16kV,电流不大于0.1mA,用示波器观察不同设置下的信号,可变的设置为:采样电阻、放大倍数、微分、积分、GM计数器上的高压;采样电阻对信号的影响可以放在最后来探究,特别关注采样电阻为1kΩ时的信号特征;
  • 设置X光管合适的工作参数,在有、无微分条件下测量GM计数器的坪特性曲线;
  • 固定X光管的高压,探究无微分、有微分两种情形下,X光强度随X光管工作电流的变化(X光管电压建议设为20kV左右),并由此得出两种情况下计数器的分辨时间(拟合公式请自己推导);(注意:若出现了计数电路的输出随X光管工作电流的增大反而减小了,则应停止继续测量,并立刻减小X光管工作电流!
  • 固定X光管的电流,探究X光强度随高压的变化;
  • 用示波器法测量G-M技术管的死时间;
  • 探究辐射计数的统计规律:高计数、低计数下的统计规律和脉冲时间间隔的统计规律;
  • 探究甄别阈值(在后面板调节)对分辨时间的影响。
  • 莱宝X光机
  • 多功能脉冲分析仪
  • 数字示波器
  • 控制电脑
  • 用运放搭建微分、积分电路,探究电路特性随原件参数的变化。
  • 基于目前的系统配置,自己编写软件,研究X光管发射光子序列的统计规律;
  • 欢迎做此实验的同学在此进行讨论。 — 乐永康 2012/11/29 10:55
用目前的“多功能脉冲分析仪”和GM管可以进行的实验有:
  1. 在条件不变下,记录读数涨落,观察涨落分布。
  2. 观察GM管输出脉冲波形,研究脉冲幅度和宽度的影响因素。
  3. 在小采样电阻的情况下,尝试根据波形推断管内的物理过程。
  4. 观察微分后的脉冲幅度分布。
  5. 利用示波器观察法得出GM计数管的死时间。
  6. 根据校正公式拟合出死时间,与示波器观察法比较。
  7. 调整脉冲触发阈值,比较不同阈值下拟合出的死时间、分辨时间。
  8. 比较不同微分档位下拟合出的死时间、分辨时间。
王烁 2012/12/07 14:52
需要注意区分“死时间”和“分辨”时间的不同。 — 乐永康 2012/12/10 23:50
  • exp/gm_counter/start.txt
  • 最后更改: 2024/05/13 16:15
  • 由 xiaole