STM 针尖制备

SPM简史

1982年,国际商业机器公司苏黎世实验室的葛•宾尼(Gerd Binnig)博士和海•罗雷尔(Heinrich Rohrer)博士及其同事们共同研制成功了世界第一台新型的表面分析仪器——扫描隧道显微镜(Scanning Tunneling Microscope,以下简称STM)。它的出现,使人类第一次能够实时地观察单个原子在物质表面的排列状态和与表面电子行为有关的物理、化学性质,在表面科学、材料科学、生命科学等领域的研究中有着重大的意义和广阔的应用前景,被国际科学界公认为八十年代世界十大科技成就之一。为表彰STM的发明者们对科学研究的杰出贡献,1986年宾尼和罗雷尔被授予诺贝尔物理学奖。

在STM出现以后,又陆续发展了一系列工作原理相似的新型显微技术,包括原子力显微镜(Atomic Force Microscope,以下简称AFM)、横向力显微镜(Lateral Force Microscope,以下简称LFM)等,这类基于探针对被测样品进行扫描成象的显微镜统称为扫描探针显微镜(Scanning Probe Microscope,以下简称SPM)。在技术本身,SPM具有的设备相对简单、体积小、价格便宜、对安装环境要求较低、对样品无特殊要求、制样容易、检测快捷、操作简便等特点,同时SPM的日常维护和运行费用也十分低廉,因此,SPM技术一经发明,就带动纳米科技快速发展,并在很短的时间内得到广泛应用。

课题主要内容

本课题的核心是扫描隧道显微镜的针尖制备及相关性能数据测试。该实验计划选用电化学腐蚀法制备针尖,其核心在于针尖刻蚀控制电路的设计与制作,以及制备过程中的各参数控制。在完成以上内容后,将计划开展针尖性能的基础性研究。

通过对该课题的研究可以实现:

  1. 理解STM基本原理、掌握STM针尖的制备方法、STM的基本操作方法;
  2. 发现并探究影响该系统性能的相关因素及其作用特点(使用SEM对制作的针尖观察形态);
  3. 使用自己制作的针尖在STM上进行测试。
  • 2套设备,建议2次以上实验时间
  • exp/afmtips.txt
  • 最后更改: 2008/11/16 21:55
  • (外部编辑)